VIEW Summit 450/600/800影像测量仪

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最后更新: 2026-07-15 08:26
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“VIEW Summit 450/600/800影像测量仪”参数说明

是否有现货: 否 品牌: QVI/VIEW
加工定制: 是 操作方式: 程序控制
分辨率: 0.1 μm 测量行程: 450 x 600 x 150 mm
放大倍率: 10-2000 测量精度: (2.0+4L/1000) μm
外形尺寸: 1016X1650X1930mm 型号: Summit 450/600/800
规格: Summit 450/600/800 商标: QVI/VIEW
包装: QVI/VIEW 负载: 50kg
产量: 100

“VIEW Summit 450/600/800影像测量仪”详细介绍

Summit450/600/800参数介绍:XY精度:E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um高分辨率刻度尺)Z线性精度:E1=(1.8+5L/1000)um(E1=(1.4+5L/1000)umTTL激光及可选5X镜头)英制单位公制单位测量范围(Summit450)18"X18"X6"450X450x150mm测量范围(Summit600)18"X24"X6"450X600x150mm测量范围(Summit800)30"X31"X6"760X800x150mm尺寸(Summit450/600)40"X65X76"1016X1650X1930mm尺寸(Summit800)56"X74.2X76"1422X1884X1930mm负载能力50kg分辨率0.1um(可选0.04umX-Y)光学双重放大(物镜X)低0.81.02.55.010.025.0高3.24.010.020.040.0100.0标准物镜2.5X可选物镜0.8X,1.0X,5X,10X照明LED背光,LED同轴面光可选特征多色可编程环形光源Ronchi栅格自动聚焦TTL激光光谱探针旋转工作台兆像素数码相机高速测量和连续图像获取特征:-测量范围:450x450x150mm或450x600x150mm-50公斤承载力-亚微米的光栅尺分辨率-平台移动速度X-Y:200mm/秒;Z:100mm/秒-可选的X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400mm/秒-误差映射:在XY平面非线性二维纠错-双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍-可编程LED平台背光及同轴表面光照明-可编程多色(红、蓝、绿、复合白色)环形灯(PRL)选项-TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能-三角和共焦激光位移传感器选项-SpectraProbeTM高分辨率彩色传感器选项-先进的图像处理性能,快速、精确、稳健-双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机;4:1的比例-次像素精度:1/10-1/50pixel-独立的AnthroCartOperator工作站,90x90x128cm;40kg-可选配一体式可调节高度的工作站活动臂及平台,上可放置平板显示器、键盘鼠标及周边设备-强大的测量软件和数据分析工具可供选择-平均无故障工作时间MTBF≥8,000小时Summit的应用范围包括:半导体/电子:PCB板与Stencil光罩引线框,引线接合,柔性线路板,连接器SMT元件贴装,锡膏/环氧数脂胶点,芯片载体和托盒,喷墨打印机墨盒数据存储:磁盘介质基板,滑块和悬臂组(HGA),Wafercarriersandrowbarpallets精密注塑和机加工件:模具和刀具,医疗设备,燃料喷射部件,手表组件Summit系统非常适用于测量有较高精度需求的大型部件,比如锡膏印刷屏模具、印刷电路板、柔性电路以及微蚀刻部件summit系统测量范围大,精度高,450/600可以选择伺服马达驱动平台,也可以是线性马达驱动平台。summit800采用高精度滚珠螺杆和伺服马达驱动系统summit系统适用于对精度要求高的尺寸测量,如锡膏模板和屏幕,工艺品,印刷电路板,电路电线,微蚀刻部件。Summit可选TTL段差补偿激光,方便灵活测量Z轴Summit可选光谱探针,提供亚微米Z轴测量分辨率。

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